电力电子技术实验指导书(廖冬初)..

《电力电子技术》

实验指导书(第4版)

长江大学电信学院

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目 录

实验名称 实验1 锯齿波同步移相触发电路与单相桥式半控整流电路实验 实验2 单结晶体管触发电路及单相半波可控整流电路实验

实验3 实验4 实验5 实验6 三相桥式全控整流及有源逆变电路实验 直流斩波电路实验 电力晶体管(GTR)特性与驱动电路研究 绝缘栅双极型晶体管(IGBT)特性与驱动电路研究

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实验一 锯齿波同步移相触发电路与单相桥式半控整流电路实验 一． 实验目的

1．加深理解锯齿波同步移相触发电路的工作原理及各元件的作用。 2．掌握锯齿波同步触发电路的调试方法。

3．研究单相桥式半控整流电路在电阻负载，电阻—电感性负载及反电势负载时的工作。 4．进一步理解可控硅的开关条件，了解续流二极管在电路中的作用。 5．掌握双踪示波器在电力电子线路实验中的使用特点与方法。

二．实验内容

1．锯齿波同步触发电路的调试。

2．锯齿波同步触发电路各点波形观察，分析 3．单相桥式半控整流电路供电给电阻性负载。

4．单相桥式半控整流电路供电给电阻—电感性负载（带续流二极管）。 5．单相桥式半控整流电路供电给反电势负载（带续流二极管）。 6．单相桥式半控整流电路供电给电阻—电感性负载（断开续流二极管）

三．实验设备及仪器

1．MCL系列教学实验台主控制屏

2．MCL—18组件（适合MCL—Ⅱ）或MCL—31组件（适合MCL—Ⅲ） 3．MCL—33组件或MCL—53组件（适合MCL—Ⅱ、Ⅲ、Ⅴ） 4．MCL—05组件或MCL—05A组件

5．MEL—03三相可调电阻器或自配滑线变阻器。 6．MEL—02三相芯式变压器。 4．双踪示波器 5．万用表

四．实验方法

1. 触发电路实验

（1）．如图1所示，将MCL-05面板上左上角的同步电压输入接MCL—18的U、V端（如您选购的产品为MCL—Ⅲ、Ⅴ，则同步电压输入直接与主控制屏的U、V输出端相连），“触发电路选择”拨向“锯齿波”。 （2）．三相调压器逆时针调到底，合上主电路电源开关，调节主控制屏输出电压Uuv=220v，并打开MCL—05面板右下角的电源开关。用示波器观察各观察孔的电压波形，示波器的地线接于“7”端。以下均同.

先将控制电压Uct (即Ug)调到零，同时观察“1”、“2”孔的波形，了解锯齿波宽度和“1”点波形的关系。观察“3”~“5”孔波形及输出电压UG1K1的波形，调整电位器RP1，使“3”的锯齿波刚出现平顶，记下各波形的幅值与宽度，比较“3”孔电压U 3与U 5的对应关系。

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U2 360° ωt U6 180° 30° ωt

图1。锯齿波同步移相触发电路 图2。脉冲移相范围

（3）．调节脉冲移相范围

将MCL—18的“G”输出电压调至0V，即将控制电压Uct调至零，用示波器观察U2电压（即“2”孔）及U5的波形，调节偏移电压Ub（即调电位器RP2），使=180，其波形如图2所示。

调节MCL—18的给定电位器“Ug”输出电压，增加Uct，观察脉冲的移动情况，要求Uct=0时，=180，Uct=Umax时，=30，以满足移相范围=30~180的要求。

（4）．调节Uct，使=60，观察并记录U1~U5及输出脉冲电压UG1K1，UG2K2的波形，并标出其幅值与宽度。

（5）．用导线连接“K1”和“K3”端，接双踪示波器地线。用双踪示波器观察“G 1”和“G 3”的波形，调节电位器RP3，使“G 1”和“G 3”间隔180。

（6）．将MCL—05（或MCL—05A，以下均同）面板左上角的同步电压输入接MCL—18的U、V输出端， “触发电路选择”拨向“锯齿波”。实验原理图如图3所示。

图3。实验原理图

三相调压器逆时针调到底，合上主电路电源开关，调节主控制屏输出电压Uuv=220v，并打开MCL—05面板右下角的电源开关。观察MCL—05锯齿波触发电路中各点波形是否正确，确定其输出脉冲可调

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的移相范围。并调节偏移电阻RP2，使Uct=0时，α=150°。注意观察波形时，须断开MEL-02和MCL-33（或MCL—53组件）的连接线。

2．单相桥式晶闸管半控整流电路供电给电阻性负载：

按图4连接MEL-02和MCL-33（或MCL—53组件）。

（a）把开关S2合向左侧连上负载电阻Rd（可选择900Ω电阻并联，最大电流为0.8A），并调节电阻负载至最大。

MCL-18（或MCL—Ⅲ型主控制屏，以下均同）的给定电位器RP1逆时针调到底，使Uct=0。 三相调压器逆时针调到底，合上主电路电源，调节主控制屏输出Uuv=220V。

调节MCL-18的给定电位器RP1，使α=90°，测取此时整流电路的输出电压Ud=f（t），输出电流id=f（t）以及晶闸管端电压UVT=f（t）波形，并测定交流输入电压U2、整流输出电压Ud，验证

Ud0.9U21cos2。

若输出电压的波形不对称，可分别调整锯齿波触发电路中RP1，RP3电位器。 （b）采用类似方法，分别测取α=60°，α=30°时的Ud、id、Uvt波形。

3．单相桥式半控整流电路供电给电阻—电感性负载

（a）把开关S1合向左侧接上续流二极管，把开关S2合向右侧接上平波电抗器，短接直流电动机电枢绕组A1A2。

MCL-18的给定电位器RP1逆时针调到底，使Uct=0。

三相调压器逆时针调到底，合上主电源，调节主控制屏输出使Uuv=220V。

（b）调节Uct，使α=90°，测取输出电压Ud=f（t），电感上的电流iL=f（t），整流电路输出电流id=f（t）以及续流二极管电流iVD=f（t）波形，并分析三者的关系。调节电阻Rd，观察id波形如何变化，注意防止过流。

（c）调节Uct，使α分别等于60°、90°时，测取Ud，iL，id，iVD波形。 （d）断开续流二极管，观察Ud=f（t），id=f（t）。

突然切断触发电路，观察失控现象并记录Ud波形。若不发生失控现象，可调节电阻Rd。

4．单相桥式半控整流电路接反电势负载

(1).断开主电路，改接直流电动机作为反电势负载（断开直流电动机电枢绕组A1A2的短接线。） 短接平波电抗器，短接负载电阻Rd。

MCL-18的给定电位器RP1逆时针调到底，使Uct=0。，合上主电源，调节主控制屏输出使Uuv=220V。 调节Uct ，用示波器观察并记录不同角时输出电压Ud、电流id及电动机电枢两端电压uM的波形，记录相应的U2和Ud的波形。（可测取α=60°，90°两点）。

2).断开平波电抗器的短接线，接上平波电抗器（L=700mH），重复以上实验并加以记录。

五．实验报告

1．整理，描绘实验中记录的各点波形，并标出幅值与宽度。

2．总结锯齿波同步触发电路移相范围的调试方法，移相范围的大小与哪些参数有关？ 3．如果要求Uct=0时，=90，应如何调整？

4．讨论分析实际移相范围能否从=0调起及其它实验现象。

5．绘出单相桥式半控整流电路供电给电阻负载，电阻—电感性负载以及反电势负载情况下，当

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α=90°时的Ud、id、UVT、iVD等波形图并加以分析。

6．作出实验整流电路的输入—输出特性Ud=f（Uct），触发电路特性Uct=f（α）及Ud/U2=f（α）曲线。

7．分析续流二极管作用及电感量大小对负载电流的影响。

六．注意事项

1．双踪示波器有两个探头，可以同时测量两个信号，但这两个探头的地线都与示波器的外壳相连接，所以两个探头的地线不能同时接在某一电路的不同两点上，否则将使这两点通过示波器发生电气短路。为此，在实验中可将其中一根探头的地线取下或外包以绝缘，只使用其中一根地线。当需要同时观察两个信号时，必须在电路上找到这两个被测信号的公共点，将探头的地线接上，两个探头各接至信号处，即能在示波器上同时观察到两个信号，而不致发生意外。

2．为保护整流元件不受损坏，需注意实验步骤：

（1）在主电路不接通电源时，调试触发电路，使之正常工作。

（2）在控制电压Uct=0时，接通主电路电源，然后逐渐加大Uct，使整流电路投入工作。 （3）正确选择负载电阻或电感，须注意防止过流。在不能确定的情况下，尽可能选择较大的电阻或电感，然后根据电流值来调整。

（4）晶闸管具有一定的维持电流IH，只有流过晶闸管的电流大于IH，晶闸管才可靠导通。实验中，若负载电流太小，可能出现晶闸管时通时断，所以实验中，应保持负载电流不小于100mA。

七．思考

1． 在可控整流电路中，续流二极管VD起什么作用？在什么情况下需要接入？ 2． 能否用双踪示波器同时观察触发电路与整流电路的波形？ 3． 叙述可控硅的导通和关断的过程

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图4。单相桥式半控整流

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实验二 单结晶体管触发电路及单相半波可控整流电路实验

一．实验目的

1．熟悉单结晶体管触发电路的工作原理及各元件的作用。 2．掌握单结晶体管触发电路的调试步骤和方法。

3．对单相半波可控整流电路在电阻负载及电阻电感负载时工作情况作全面分析。 4．了解续流二极管的作用。

二．实验内容

1．单结晶体管触发电路的调试。 2．单结晶体管触发电路各点波形的观察。 3．单相半波整流电路带电阻性负载时特性的测定。

4．单相半波整流电路带电阻—电感性负载时，续流二极管作用的观察。

三．实验线路及原理

将单结晶体管触发电路的输出端“G”“K”端接至晶闸管VT1的门阴极，即可构成如图4-1所示的实验线路。

四．实验设备及仪器

1．MCL系列教学实验台主控制屏

2．MCL—18组件（适合MCL—Ⅱ）或MCL—31组件（适合MCL—Ⅲ） 3．MCL—33（A）组件或MCL—53组件（适合MCL—Ⅱ、Ⅲ、Ⅴ） 4．MCL—05组件或MCL—05A组件

5．MEL—03三相可调电阻器或自配滑线变阻器 6．二踪示波器 7．万用表

五．注意事项

1．双踪示波器有两个探头，可以同时测量两个信号，但这两个探头的地线都与示波器的外壳相连接，所以两个探头的地线不能同时接在某一电路的不同两点上，否则将使这两点通过示波器发生电气短路。为此，在实验中可将其中一根探头的地线取下或外包以绝缘，只使用其中一根地线。当需要同时观察两个信号时，必须在电路上找到这两个被测信号的公共点，将探头的地线接上，两个探头各接至信号处，即能在示波器上同时观察到两个信号，而不致发生意外。

2．为保护整流元件不受损坏，需注意实验步骤：

（1）在主电路不接通电源时，调试触发电路，使之正常工作。

（2）在控制电压Uct=0时，接通主电路电源，然后逐渐加大Uct，使整流电路投入工作。 （3）正确选择负载电阻或电感，须注意防止过流。在不能确定的情况下，尽可能选择较大的电阻

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或电感，然后根据电流值来调整。

（4）晶闸管具有一定的维持电流IH，只有流过晶闸管的电流大于IH，晶闸管才可靠导通。实验中，若负载电流太小，可能出现晶闸管时通时断，所以实验中，应保持负载电流不小于100mA。

（5）本实验中，因用MCL—05组件中单结晶触发电路控制晶闸管，注意须断开MCL—33（MCL—53组件)的内部触发脉冲。

六．实验方法

1．单结晶体管触发电路调试及各点波形的观察

将MCL—05（或MCL—05A，以下均同）面板左上角的同步电压输入接MCL—18的U、V输出端（如您选购的产品为MCL—Ⅲ、Ⅴ，则同步电压输入直接与主控制屏的U、V输出端相连），“触发电路选择”拨至“单结晶”。按照实验接线图正确接线，但由单结晶体管触发电路连至晶闸管VT1的脉冲UGK不接（将MCL—05面板中G、K接线端悬空），而将触发电路“2”端与脉冲输出“K”端相连，以便观察脉冲的移相范围。

三相调压器逆时针调到底，合上主电源，即按下主控制屏绿色“闭合”开关按钮，这时候主控制屏U、V、W端有电压输出，大小通过三相调压器调节。本实验中，调节Uuv=220V，这时候MCL—05内部的同步变压器原边接有220V，原边输出分别为60V（单结晶触发电路）、30V（正弦波触发电路）、7V（锯齿波触发电路），通过直键开关选择。

注：如您选购的产品为MCL—Ⅲ、Ⅴ，无三相调压器，直接合上主电源。以下均同

合上MCL—05面板的右下角船形开关，用示波器观察触发电路单相半波整流输出（“1”），梯形电压（“3”），锯齿波电压（“4”）及单结晶体管输出电压（“5”、“6”）和脉冲输出（“G”、“K”）等波形。

调节移相可调电位器RP，观察输出脉冲的移相范围能否在30°～180°范围内移。

注：由于在以上操作中，脉冲输出未接晶闸管的控制极和阴极，所以在用示波器观察触发电路各点波形时，特别是观察脉冲的移相范围时，可用导线把触发电路的地端（“2”）和脉冲输出“K”端相连。但一旦脉冲输出接至晶闸管，则不可把触发电路和脉冲输出相连，否则造成短路事故，烧毁触发电路。

采用正弦波触发电路、锯齿波触发电路或其它触发电路，同样需要注意，谨慎操作。

2．单相半波可控整流电路带电阻性负载

断开触发电路“2”端与脉冲输出“K”端的连接，“G”、“K”分别接至MCL—33（或MCL—53）的VT1晶闸管的控制极和阴极，注意不可接错。负载Rd接可调电阻（可把MEL—03的900Ω电阻盘并联，即最大电阻为450Ω，电流达0.8A），并调至阻值最大。

合上主电源，调节主控制屏输出电压至Uuv=220V，调节脉冲移相电位器RP，分别用示波器观察=30°、60°、90°、120°时负载电压Ud，晶闸管VT1的阳极、阴极电压波形UVt。并测定Ud及电源电压U2，验证

 Ud0.45U21cos2 α U2,ud Ud U2 30° 60° 90° 120° AAAAAA

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3．单相半波可控整流电路带电阻—电感性负载，无续流二极管

串入平波电抗器，在不同阻抗角（改变Rd数值）情况下，观察并记录=30O、60O、90O、120O时的Ud、id及Uvt的波形。注意调节Rd时，需要监视负载电流，防止电流超过Rd允许的最大电流及晶闸管允许的额定电流。

4．单相半波可控整流电路带电阻，电感性负载，有续流二极管。

接入续流二极管，重复“3”的实验步骤。

七．实验内容

1．画出触发电路在α=90°时的各点波形。

2．画出电阻性负载，α=90°时，Ud=f（t），Uvt=f（t），id=f（t）波形。

3．分别画出电阻、电感性负载，当电阻较大和较小时，Ud=f（t）、UVT=f（t），id=f（t）的波形（α=90°）。

4．画出电阻性负载时Ud/U2=f（a）曲线，并与Ud0.45U25．分析续流二极管的作用。

1cos2进行比较。

八．思考

1．本实验中能否用双踪示波器同时观察触发电路与整流电路的波形？为什么？ 2．为何要观察触发电路第一个输出脉冲的位置？

3．本实验电路中如何考虑触发电路与整流电路的同步问题？

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1-4图精品文档 你我共享

实验三 三相桥式全控整流及有源逆变电路实验

一．实验目的

1．熟悉MCL-18, MCL-33组件。

2．熟悉三相桥式全控整流及有源逆变电路的接线及工作原理。 3．了解集成触发器的调整方法及各点波形。

二．实验内容

1．三相桥式全控整流电路 2．三相桥式有源逆变电路

3．观察整流或逆变状态下，模拟电路故障现象时的波形。

三．实验线路及原理

实验原理图如图1所示。主电路由三相全控变流电路及作为逆变直流电源的三相不控整流桥组成。触发电路为数字集成电路，可输出经高频调制后的双窄脉冲链。三相桥式整流及有源逆变电路的工作原理可参见“电力电子技术”的有关教材。

图1。实验原理图 四．实验设备及仪器

1．MCL系列教学实验台主控制屏。

2．MCL—18组件（适合MCL—Ⅱ)或MCL—31组件（适合MCL—Ⅲ）。 3．MCL—33（A）组件或MCL—53组件（适合MCL—Ⅱ、Ⅲ、Ⅴ） 4．MEL-03可调电阻器（或滑线变阻器1.8K, 0.65A） 5．MEL-02芯式变压器 6．二踪示波器 7．万用表

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五．实验方法

1．按图接线，未上主电源之前，检查晶闸管的脉冲是否正常。

（1）打开MCL-18电源开关，给定电压有电压显示。

（2）用示波器观察MCL-33（或MCL-53，以下同）的双脉冲观察孔“1”至“6”，应有间隔均匀，相互间隔60的幅度相同的双脉冲。该信号与±15V电源共地。

（3）检查相序，用示波器观察“1”，“2”单脉冲观察孔，“1” 脉冲超前“2” 脉冲60，则相序正确，否则，应调整输入电源。

（4）用示波器观察每只晶闸管的控制极，阴极，应有幅度为1V—2V的脉冲。

注：将面板上的Ublf（当三相桥式全控变流电路使用I组桥晶闸管VT1~VT6时）接地，将I组桥式触发脉冲的六个开关均拨到“接通”。

（5）将给定器输出Ug接至MCL-33面板的Uct端，调节偏移电压Ub，在Uct=0时，使=150。方法是，将同步电压“U”接入示波器第一通道，双脉冲观察孔“1” 接入示波器第二通道，地线接±15V电源地，调节偏移电压Ub，使观察孔“1”第一个脉冲落后“U”相正弦波180。偏移电压Ub即调好，此后不再调偏移电压Ub。

（6）调=90。方法是调节给定器输出Ug使观察孔“1”第一个脉冲落后“U”相正弦波120。

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2．三相桥式全控整流电路

按图接线，S拨向左边短接线端，将Rd调至最大(450)。

三相调压器逆时针调到底，合上主电源，调节主控制屏输出电压Uuv、Uvw、Uwu，从0V调至220V。 注：如您选购的产品为MCL—Ⅲ、Ⅴ，无三相调压器，直接合上主电源。以下均同

调节Uct，使在30~90范围内，用示波器观察记录=30、60、90时，整流电压ud=f（t），晶闸管两端电压uVT=f（t）的波形，并记录相应的Ud和交流输入电压U2数值。

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3．三相桥式有源逆变电路

断开电源开关后，将S拨向右边的不控整流桥，调节Uct，使仍为150左右。

三相调压器逆时针调到底，合上主电源，调节主控制屏输出电压Uuv、Uvw、Uwu，从0V调至220V合上电源开关。

调节Uct，观察=90、120、150时, 电路中ud、uVT的波形，并记录相应的Ud、U2数值。

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4．电路模拟故障现象观察。在整流状态时，断开某一晶闸管元件的触发脉冲开关，则该元

件无触发脉冲即该支路不能导通，观察并记录此时的ud波形。

说明：如果采用的组件为MCL—53或MCL—33（A），则触发电路是KJ004集成电路，具体应用可参考相关教材。

六．实验报告

1．画出电路的移相特性Ud=f()曲线

2．作出整流电路的输入—输出特性Ud/U2=f（α）

3．画出三相桥式全控整流电路时，角为30、60、90时的ud、uVT波形 4．画出三相桥式有源逆变电路时，β角为150、120、90 时的ud、uVT波形 4． 简单分析模拟故障现象

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图2。三相桥式全控整流及有源逆变

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实验四 直流斩波电路研究

一．实验目的

1．掌握直流斩波Buck—Boost变换器的工作原理、特点与电路组成。 2．熟悉直流斩波Buck—Boost变换器连续与不连续工作模式的工作波形图。 3．掌握直流斩波Buck—Boost变换器的调试方法。

二．实验内容

1．连接实验线路，构成一个实用的直流斩波Buck—Boost变换器。

2．调节占空比，测出电感电流iL处于连续与不连续临界状态时的占空比D，并与理论值相比较。

3．将电感L增大一倍，测出iL处于连续与不连续临界状态时的占空比D，并与理论值相比较。

4．测出连续与不连续工作状态时的Vbe、Vce、VD、VL、iL、iC、iD等波形。 5．测出直流电压增益M=VO/VS与占空比D的函数关系。

6．测试输入、输出滤波环节分别对输入电流iS与输出电流iO影响。

三．实验线路

见图5—5。

四．实验设备和仪器

1．MCL-08直流斩波及开关电源实验挂箱 2．万用表 3．双踪示波器

五．实验方法

1．检查PWM信号发生器与驱动电路工作是否正常

连接有关线路，观察信号发生器输出与驱动电路的输出波形是否正常，如有异常现象，则先设法排除故障。

2．电感L=1.6mH，电感电流iL处于连续与不连续临界状态时的占空比D测试

将“16”与“18”、“21”与“4”、“22”与“5”、“19”与“6”、“1”与“4”、“9”与“12”相连，即按照以下表格连线。 16 21 18 4 22 5 19 6 1 4 9 12 AAAAAA

精品文档 你我共享 合上开关S1与S2、S3、S4，用示波器观察“7”与“13”（即iL）之间波形，然后调节2112+15V11R5+通S4断22L4C3C5+192010C298+1523C1+436555L12141R1RP1使iL处于连续与不连续的临界状态，记录这时候的占空比D与工作周期T。 3．L=1.6mH，测出处于连续与不连续临界工作状态时的Vbe、Vce、VD、iL、iC、iD等波形 调节RP1，使iL处于连续与不连续临界工作状态，用示波器测出GTR基-射极电压Vbe与集-射极电压Vce；二极管VD阴极与阳极之间电压VD；电感L3两端电压VL；电感电流iL；三极管集电极电流iC以及二极管电流iD等波形。 4．L=1.6mH,测出连续工作状态时的Vbe、Vce、VD、iL、iC、iD等波形 调节RP1，使iL处于连续工作状态，用双踪示波器观察上述波形。 5．L=1.6mH,测出不连续工作状态时的Vbe、Vce、VD、iL、iC、iD等波形 调节RP1，使iL处于不连续工作状态，用双踪示波器观察上述波形。 6．L=1.6mH，iL处于连续与不连续临界状态时的占空比D测试

将开关S2断开，观察iL波形，调节RP1，使iL处于连续与不连续的临界状态，记录这时候的占空比D与工作周期T。

Vcc通 断S1AAAAAA

RP172185C43图5—5 BUCK-BOOST电路R3R4L313R2S2L27+15VR6S3通 断6通VT断18161745精品文档 你我共享

7．L=3.2mH，测出连续工作状态时的Vbe、Vce、VD、iL、iC、iD等波形 调节RP1，使iL处于连续工作状态，测试方法同前。

8．L=3.2mH，测出不连续工作状态时的Vbe、Vce、VD、iL、iC、iD等波形 9．测出M=VO/VS与占空比D的函数关系

（1）L=1.6mH，占空比D 从最小到最大范围内，测试5～6个D数据，以及与此对应的输出电压VO。 D Vo（V） （2）L=3.2mH，测试方法同上。 D Vo（V） 9．输入滤波器功能测试

有与没有输入滤波器时，电源电流（即15～14两端）波形测试。 10．输出滤波器功能测试

有与没有输出滤波器时，输出电流纹波测试。

五．实验报告

1．分别在L=1.6mH与3.2mH条件下,列出iL连续与不连续临界状态时的占空比D,并与理论值相比较。

理论上iL连续与断续的临界条件为τ

LC

=（1-D）/2，式中τ

2

LC

=L/RT为连续与断续临界

状态时的临界时间常数，负载电阻R=300Ω，工作周期T按实测数据。

2．画出不同L，连续与断续时的Vbe、Vce、VD、iL、iC、iD等波形，并与理论上的正确波形相比较。

3．根据不同的L值，按所测的D，VO值计算出M值，列出表格，并画出曲线。连续工作状态时的直流电压增益表达式为M=D/（1-D），请在同一图上画出该曲线，并在图上注明连续工作与断续工作区间。

4．试对Buck-Boost变换器的优缺点作一评述。 5．试说明输入、输出滤波器在该变换中起何作用？ 6．实验的收获、体会与改进意见。

六．思考题

试分析连续工作状态时，输出电压VO由哪个参数决定？当断续工作状态时，VO又由哪些参数决定？

AAAAAA

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实验五 电力晶体管(GTR)特性与驱动电路研究

一．实验目的

1．掌握GTR对基极驱动电路的要求

2．掌握一个实用驱动电路的工作原理与调试方法

3．熟悉(GTR)的开关特性与二极管的反向恢复特性及其测试方法 5． 掌握GTR缓冲电路的工作原理与参数设计要求

二．实验内容

1．连接实验线路组成一个实用驱动电路 2．PWM波形发生器频率与占空比测试

3．光耦合器输入、输出延时时间与电流传输比测试 4．贝克箝位电路性能测试 5．过流保护电路性能测试

6．不同负载时的GTR开关特性测试。 7．不同基极电流时的开关特性测试。 8．有与没有基极反压时的开关过程比较。 9．并联冲电路性能测试。 10．串联冲电路性能测试。 11．二极管的反向恢复特性测试。

三．实验线路

见图5—1

四．实验设备和仪器

1．MCL-07电力电子实验箱 2．双踪示波器 3．万用表

6． 教学实验台主控制屏

五．实验方法

1．检查面板上所有开关是否均置于断开位置 2．PWM波形发生器频率与占空比测试

（1）开关S1、S2打向“通”，将脉冲占空比调节电位器RP顺时针旋到底，用示波器观察1和2点间的PWM波形，即可测量脉冲宽度、幅度与脉冲周期，并计算出频率f与占空比D，填入表5—1。

S2：通 表5—1 幅度（Vp-p） 宽度（ms） 周期（ms） 频率f（kHz） 占空比D AAAAAA

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RP：右旋 S2：通 RP：左旋 S2：断 RP：右旋 S2：断 RP：左旋 （2）将电位器RP左旋到底，测出f与D，填入表5—1。 （3）将开关S2打向“断”，测出这时的f与D，填入表5—1。 （4）电位器RP顺时针旋到底，测出这时的f与D，填入表5—1 （5）将S2打在“断”位置，然后调节RP，使占空比D=0.2左右。 3．光耦合器特性测试

（1）输入电阻为R1=1.6K时的开门，关门延时时间测试

a．将GTR单元的输入“1”与“6”分别与PWM波形发生器的输出“1”与“2”相连，再分别连接GTR单元的“3”与“5”，“9”与“7”及“6”与“11”，即按照以下表格的说明连线。 GTR ：1 PWM：1 GTR：6 PWM：2 GTR：3 GTR：5 GTR：9 GTR：7 GTR：6 GTR：11 b．GTR单元的开关S1合向“ ”，用双踪示波器观察输入“1”与“6”及输出“7”与“11”之间波形，记录开门时间ton（含延迟时间td和下降时间tf）以及关门时间toff（含储存时间ts和上升时间tr），填入表5—2。

表5—2 R=1.6k td tf ton ts tr toff （2）输入电阻为R2=150时的开门，关门延时时间测试

将GTR单元的“3”与“5”断开，并连接“4”与“5”， 调节电位器RP顺时针旋到底（使RP短接），其余同上，记录开门、关门时间，填入表5—3。

表5—3 R=150 td tf ton ts tr toff （3）输入加速电容对开门、关门延时时间影响的测试

断开GTR单元的“4”和“5”，将“2”、“3”与“5”相连，即可测出具有加速电容时的开门、关门时间，填入表5—4。

表5—4 接有加速电容 td tf ton ts tr toff （4）输入、输出电流传输比(CTR)测定

AAAAAA

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电流传输比定义为CTR=输出电流/输入电流

GTR单元的开关S1合向“5V”，S2打向“通”，连接GTR的“6”和PWM波形发生器的“2”，分别在GTR单元的“4”和“5”以及“9”与“7”之间串入直流毫安表，电位器RP左旋到底，测量光耦输入电流Iin、输出电流Iout。

改变RP(逐渐右旋)，分别测量5-6组光耦输入，输出电流，填入表5—5。

表5—5 输入、输出电流传输比(CTR)测定 Iin（mA） Iout（mA） CTR 4．驱动电路输入，输出延时时间测试

GTR单元的开关S1合向“ ”， 将GTR单元的输入“1”与“6”分别与PWM波形发生器的输出“1”与“2”相连，再分别连接GTR单元的“3”与“5”，“9”与“7”及“6”与“11”、“8”，即按照以下表格的说明连线。 GTR ：1 GTR：6 GTR：3 PWM：1 PWM：2 GTR：5 GTR：9 GTR：7 GTR：6 GTR：11 GTR：8 用双踪示波器观察GTR单元输入“1”与“6”及驱动电路输出“14”与“11”之间波形，记录驱动电路的输入，输出延时时间。

td=

5．贝克箝位电路性能测试

（1）不加贝克箝位电路时的GTR存贮时间测试。

GTR单元的开关S1合向“ ”， 将GTR单元的输入“1”与“6”分别与PWM波形发生器的输出“1”与“2”相连，再分别连接GTR单元的”2“、“3”与“5”，“9”与“7”，“14”与“19”，“29”与“21”，以及GTR单元的“8”、“11”、“18”与主回路的“4”，GTR单元的“22”与主回路的“1”，即按照以下表格的说明连线。 GTR ：1 GTR：6 GTR：3 GTR：9 GTR：8 GTR：14 GTR：29 PWM：1 PWM：2 GTR：2 GTR：7 GTR：11 GTR：19 GTR：21 GTR：5 GTR：18 主回路：4 之间）波形，记录存贮时间ts。

ts=

GTR：22 主回路：1 用双踪示波器观察基极驱动信号ub（“19”与“18”之间）及集电极电流ic（“22”与“18”

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（2）加上贝克箝位电路后的GTR存贮时间测试 在上述条件下，将20与14相连，观察与记录ts的变化。 ts=

6．过流保护性能测试

在实验5接线的基础上接入过流保护电路，即断开“8”与“11”的连接，将“36”与“21”、“37”与“8”相连，开关S3放在“断”位置。

用示波器观察“19”与“18”及“21”与“18”之间波形，将S3合向“通”位置，(即减小比较器的比较电压，以此来模拟采样电阻R8两端电压的增大)，此时过流指示灯亮，并封锁驱动信号。

将S3放到断开位置，按复位按钮，过流指示灯灭，即可继续进行试验。 7．不同负载时GTR开关特性测试 （1）电阻负载时的开关特性测试

GTR单元的开关S1合向“ ”， 将GTR单元的输入“1”与“6”分别与PWM波形发生器的输出“1”与“2”相连，再分别连接GTR单元的 “3”与“5”，“9”与“7”，“15”、“16”与“19”，“29”与“21”，以及GTR单元的“8”、“11”、“18”与主回路的“4”， GTR单元的“22”与主回路的“1”，即按照以下表格的说明连线。 GTR ：1 GTR：6 GTR：3 GTR：9 GTR：8 GTR：15 GTR：29 PWM：1 PWM：2 GTR：5 GTR：7 GTR：11 GTR：16 GTR：21 GTR：18 GTR：19 主回路：4 之间）波形，记录开通时间ton，存贮时间ts、下降时间tf。

GTR：22 主回路：1 用示波器观察，基极驱动信号ib（“19”与“18”之间）及集电极电流ic（“21”与“18”

ton= us，ts= us，tf= us

（2）电阻、电感性负载时的开关特性测试

除了将主回器部分由电阻负载改为电阻、电感性负载以外（即将“1”与“22”断开而将“2”与“22”相连)，其余接线与测试方法同上。

ton= us，ts= us，tf= us

8．不同基极电流时的开关特性测试 （1）基极电流较小时的开关过程

断开GTR单元“16”与“19”的连接，将基极回路的“15”与“19”相连，主回路的“1”与GTR单元的“22”相连，其余接线同上，测量并记录基极驱动信号ib（“19”与“18”之间）及集电极电流ic（“21”与“18”之间）波形，记录开通时间ton，存贮时间ts、下降时间tf。

ton= us，ts= us，tf= us

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（2）基极电流较大时的开关过程

将GTR单元的“15”与“19”的连线断开，再将“14”与“19”相连，其余接线与测试方法同上。

ton= us，ts= us，tf= us

9．有与没有基极反压时的开关过程比较

（1）没有基极反压时的开关过程测试---与上述2（2）测试方法相同。 （2）有基极反压时的开关过程测试

a．将GTR单元的“18”与“11”断开，并将“18”与“17”以及“12”与“11”相连，其余接线与测试方法同上。

ton= us，ts= us，tf= us

b．将GTR单元的“18”与“17”，“12”与“11”，“14”与“19”断开，将“15”、“16”与“19”、“18”与“11”相连，这时的基极反压系由电容C3两端电压产生，其余接线与测试方法同上。

ton= us，ts= us，tf= us

10．并联缓冲电路性能测试，基极电阻用R6，加贝克箝位电路

(1)、电阻负载（将主回路1与22相连）时，不同并联缓冲电路参数时的性能测试 a．大电阻、小电容时的缓冲特性

将GTR单元的“26”、“27”与“31”相连，“32”与“18”相连，其余接线同上，测量并描绘“21”与“18”及“22”与“18”之间波形(包括GTR导通与关断时的波形，下同)。

b．大电阻、大电容时的缓冲特性

断开GTR单元的“26”、“27”与“31”的相连，将“26”、“27”与“30”相连，测量并描绘“21”与“18”及“22”与“18”之间波形。

c．小电阻大电容时的缓冲特性

断开GTR单元的“26”、“27”与“30”的相连，将“26”、“28”与“30”相连，测试方法同上。

d．小电阻大电容时的缓冲特性

断开GTR单元的“26”、“28”与“30”的相连，将“26”、“28”与“31”相连，测试方法同上。

(2)、电阻、电感负载（主回路2与22相连）时，不同并联缓冲电路参数时的性能测试

a．无并联缓冲时测量“21”与“18”及“22”与“18”之间波形。

B、加上并联缓冲，即将“26”、“28”与“30”相连，测量“21”与“18”及“22”与“18” 之间波形。

11．串联缓冲电路性能

（1）较大串联电感时的缓冲特性

将主回路的“1”与GTR单元的“23”相连，“25”与“22”相连，其余接线同上，测量“21”与“18”及“22”与“18”之间波形。

（2）较小串联电感时的缓冲特性

将GTR单元的“25”与“22”断开，将“24”与“22”相连，其余接线与测试方法同

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上。

12．二极管的反向恢复特性测试 （1）快恢复二极管的恢复特性测试

将主回路的“1”与GTR单元的“22”相连，“26”与“34”，“33” 、“27”与“30”相连，其余接线同上 。观察电阻R11两端的波形。

测试条件：调节PWM波形发生器的RP，脉冲的占空比足够大，使GTR的关断时间比集-射极电压UCe(即UC4)上升到稳态值的时间短，这样，在GTR关断过程中通过二极管对C4的充电电流还未结束时，GTR又一次导通，这时即可在采样电阻R11(为1Ω)两端观察到反向恢复过程。

（2）普通二极管的恢复特性测试

断开GTR单元的“26”、“34”的相连，将“35”与“22” ，“33”、“27” 与“30”相连,其余接线与测试方法同上。

六．实验报告

1．画出PWM波形，列出PWM波形发生器S2在“通”与“断”位置时的频率f与最大，最小占空比。

2．画出光耦合器在不同输入电阻及带有加速电容时的输入、输出延时时间曲线，探讨能缩短开门、关门延时时间的方法。

3．列出光耦输入、输出电流，并画出电流传输比曲线。

4．列出有与没有贝克箝位电路时的GTR存贮时间ts，并说明使用贝克箝位电路能缩短存贮时间ts的物理原因以及对贝克箝位二极管V1的参数选择要求。

7． 试说明过流保护电路的工作原理。

7．绘出电阻负载与电阻、电感负载时的GTR开关波形，并在图上标出ton、tS与tf，并分析不同负载时开关波形的差异。

8．绘出不同基极电流时的开关波形并在图上标出ton、tS与tf，并分析理想基极电流的形状，探讨获得理想基极电流形的方法。

9．绘出有与没有基极反压时的开关波形，分析及其对关断过程的影响。试分析实验中所采用的两种基极反压方案的优缺点，你能否设计另一种获得反压的方案。

10．绘出不同负载，不同并联缓冲电路参数时的开关波形，对不同波形的形状从理论上加以说明。

11．试分析串并联缓冲电路对GTR开关损耗的影响。

12．绘出二极管的反向恢复特性曲线，并估算出反向恢复峰值电流值(电源电压为15V，R11=1Ω)，试说明二极管V2、V3应选用具有何种恢复特性的二极管。

13．实验的收获，体会与改进意见。

七．思考题

1．波形发生器中R1=160Ω，RP=1kΩ，R2=3kΩ，C1=0.022uF，C2=0.22uF，试对所测的f、Dmax、Dmin与理论值作一比较，能否分析一下两者相差的原因？

2．实验中的光耦为TLP521，试对实测的开门、关门延时时间与该器件的典型延时时间

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作一比较，能否分析一下两者相差的原因。

3．试比较波形发生器输出与驱动电路输出处的脉冲占空比，并分析两者相差的原因，你能否提出一种缩小两者差异的电路方案。

4．根据实测的光耦电流传输比以及尽量短的开关门延时时间，请对C1、R1及R3等参数作出选择。

5．试说明如何正确选用并联缓冲电阻与电容，当GTR的最小导通时间已知为ton(min)

时，你能否列出选择R、C应满足的条件？

6．GTR的开关特性是指开通与关断过程中集电极电流与基极电流之间的相互变化关系，但因基极电流与集电极电流之间无共地点，因此无法用双踪示波器同时测试。实验中用基极电压来代替基极电流，试分析这种测试方法的优缺点，你能否设计出更好的测试方法?

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实验六 绝缘栅双极型晶体管(IGBT)特性与驱动电路研究

一．实验目的

1．熟悉IGBT主要参数与开关特性的测试方法。

2．掌握混合集成驱动电路EXB840的工作原理与调试方法。

二．实验内容

1．IGBT主要参数测试。 2．EXB840性能测试。 3．IGBT开关特性测试。 4．过流保护性能测试。

三．实验设备和仪器

1．MCL-07电力电子实验箱中的IGBT与PWM波形发生器部分。 2．双踪示波器。 3．毫安表 4．电压表 5．电流表

6．MCL系列教学实验台主控制屏

四．实验线路

见图5—3

五．实验方法

1．IGBT主要参数测试 （1）开启阀值电压VGS（th）测试

在主回路的“1”端与IGBT的“18”端之间串入毫安表，将主回路的“3”与“4”端分别与IGBT管的“14”与“17”端相连，再在“14”与“17”端间接入电压表，并将主回路电位器RP左旋到底。

将电位器RP逐渐向右旋转，边旋转边监视毫安表，当漏极电流ID=1mA时的栅源电压值即为开启阀值电压VGS（th）。

读取6—7组ID、Vgs，其中ID=1mA必测，填入表5—8。

表5—8 1 ID（mA） Vgs（V） （2）跨导gFS测试

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在主回路的“2”端与IGBT的“18”端串入安培表，将RP左旋到底，其余接线同上。 将RP逐渐向右旋转，读取ID与对应的VGS值，测量5-6组数据，填入表5—9。 ID（mA） Vgs（V） 表5—9 1 （3）导通电阻RDS测试

将电压表接入“18”与“17”两端，其余同上，从小到大改变VGS，读取ID与对应的漏源电压VDS，测量5-6组数据，填入表5—10。 表5—10 1 ID（mA） Vgs（V） 2．EXB840性能测试 （1）输入输出延时时间测试

IGBT部分的“1”与“13”分别与PWM波形发生部分的“1”与“2”相连，再将IGBT部分的“10”与“13”、与门输入“2”与“1”相连，用示波器观察输入“1”与“13”及EXB840输出“12”与“13”之间波形，记录开通与关断延时时间。

ton= ，toff=

（2）保护输出部分光耦延时时间测试

将IGBT部分“10”与“13”的连线断开，并将“6”与“7”相连。用示波器观察“8”与“13”及“4”与“13” 之间波形，记录延时时间。

（3）过流慢速关断时间测试

接线同上，用示波器观察“1”与“13”及“12”与“13”之间波形，记录慢速关断时间。

（4）关断时的负栅压测试

断开“10”与“13”的相连，其余接线同上，用示波器观察“12”与“17”之间波形，记录关断时的负栅压值。

（5）过流阀值电压测试

断开“10”与“13”，“2”与“1”的相连，分别连接“2”与“3”，“4”与“5”，“6”与“7”，将主回路的“3”与“4”分别和“10”与“17”相连，即按照以下表格的说明连线。

IGBT：17 IGBT：10 IGBT：4 IGBT：6 IGBT：2 IGBT：12 主回路：4 主回路：3 IGBT：5 IGBT：7 IGBT：3 IGBT：14 RP左旋到底，用示波器观察“12”与“17”之间波形，将RP逐渐向右旋转，边旋转边监视波形，一旦该波形消失时即停止旋转，测出主回路“3”与“4”之间电压值，该值即为过流保护阀值电压值。

（6）4端外接电容器C1功能测试——供教师研究用

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EXB840使用手册中说明该电容器的作用是防止过流保护电路误动作（绝大部分场合不需要电容器）。

a．C1不接，测量“8”与“13”之间波形。

b．“9”与“13”相连时，测量“8”与“13” 之间波形，并与上述波形相比较。 3．开关特性测试

（1）电阻负载时开关特性测试

将“1”与“13”分别与波形发生器“1”与“2”相连，“4”与“5”，“6”与“7”，‘2“与”3“，“12”与“14”，“10”与“18”， “17”与“16”相连，主回路的“1”与“4”分别和IGBT部分的“18”与“15”相连。即按照以下表格的说明连线。 IGBT：1 IGBT：13 IGBT：4 IGBT：6 IGBT：2 PWM：1 PWM：2 IGBT：5 IGBT：7 IGBT：3 IGBT：10 IGBT：15 主回路：4 IGBT：16 IGBT：18 IGBT：17 IGBT：18 主回路：1 IGBT：12 IGBT：14 用示波器分别观察“8”与“15”及“14”与“15”的波形，记录开通延迟时间。 （2）电阻，电感负载时开关特性测试

将主回路“1”与“18”的连线断开，再将主回路“2”与“18”相连，用示波器分别观察“8”与“15”及“16”与“15”的波形，记录开通延迟时间。。

（3）不同栅极电阻时开关特性测试

将“12”与“14”的连线断开，再将“11”与“14”相连，栅极电阻从R5＝3kΩ改为R4=27Ω，其余接线与测试方法同上。

4．并联缓冲电路作用测试

（1）电阻负载，有与没有缓冲电路时观察“14”与“17”及“18”与“17”之间波形。

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（2）电阻，电感负载，有与没有缓冲电路时，观察波形同上。

IGBT+5VS1R31524C19101112S2+18V1819R11R271466&4VD1EXB8403+R4R51423VD2R7+5V&59135117C2&PWMR1 84S1+5V1R1L1R2RPR276555153132S2C1C2R3245．过流保护性能测试，栅计电阻用R4 在上述接线基础上，将“4”与“5”，“6”与“7”相连，观察“14”与“17”之间波形，然后将“10”与“18”之间连线断开，并观察驱动波形是否消失，过流指示灯是否发亮，待故障消除后，揿复位按钮即可继续进行试验。 六．实验报告

1．根据所测数据，绘出IGBT的主要参数的表格与曲线 。

2．绘出输入、输出及对光耦延时以及慢速关断等波形，并标出延时与慢速关断时间。 3．绘出所测的负栅压值与过流阀值电压值。

4．绘出电阻负载，电阻电感负载以及不同栅极电阻时的开关波形，并在图上标出tON 与tOFF。

5．绘出电阻负载与电阻、电感负载有与没有并联缓冲电路时的开关波形，并说明并联缓冲电路的作用。

6．过流保护性能测试结果，并对该过流保护电路作出评价。 7．实验的收获、体会与改进意见。

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+2+2015R616SV+VD1R3RP精品文档 你我共享

七．思考题

1．试对由EXB840构成的驱动电路的优缺点作出评价。

2．在选用二极管V1时，对其参数有何要求？其正向压降大小对IGBT的过流保护功能有何影响？

3．通过MOSFET与IGBT器件的实验，请你对两者在驱动电路的要求，开关特性与开关频率，有、无反并联寄生二极管，电流、电压容量以及使用中的注意事项等方面作一分析比较。

兰亭序

永和九年，岁在癸丑，暮春之初，会于会稽山阴之兰亭，修禊事也。群贤毕至，少长咸集。此地有崇山峻岭，茂林修竹；又有清流激湍，映带左右，引以为流觞曲水，列坐其次。虽无丝竹管弦之盛，一觞一咏，亦足以畅叙幽情。是日也，天朗气清，惠风和畅，仰观宇宙之大，俯察品类之盛，所以游目骋怀，足以极视听之娱，信可乐也。

夫人之相与，俯仰一世，或取诸怀抱，晤言一室之内；或因寄所托，放浪形骸之外。虽取舍万殊，静躁不同，当其欣于所遇，暂得于己，快然自足，不知老之将至。及其所之既倦，情随事迁，感慨系之矣。向之所欣，俯仰之间，已为陈迹，犹不能不以之兴怀。况修短随化，终期于尽。古人云：“死生亦大矣。”岂不痛哉！

每览昔人兴感之由，若合一契，未尝不临文嗟悼，不能喻之于怀。固知一死生为虚诞，齐彭殇为妄作。后之视今，亦犹今之视昔。悲夫！故列叙时人，录其所述，虽世殊事异，所以兴怀，其致一也。后之览者，亦将有感于斯文。

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