与供应商端明确LCD标准，规范LCD物料的检验，确保进料的质量。 2 范围：
适用于我司IQC所有LCD屏之物料检验（自购料、客供料）。 3 检验要求： 抽样标准
采样类型正常抽查一次方案； 抽样表：MIL-STD-105E-II 。
AQL可接受水准
CR=0， Major = ， Minor = 。
不良品分类 ：
a. 功能缺陷影响正常使用； b. 性能参数超出规格标准； c. 漏元件、配件及主要标识；
d. 多出无关标识及其他可能影响产品性能的物品。
次要的缺陷：主要缺陷之外的为次要缺陷。
.可接受程度和不能接受程度
按AQL为主要的和次要缺陷数的取样中发现等于或小于AQL(可接受的质量水平),此批次被接受，缺陷数的取样中发现的大于AQL,这批应当予以驳回。
接受批次：每批次抽检按AQL接收水平接收或者全检单项次缺陷占总比例3%以内接受。
不合格：每批次抽检按AQL接收水平超出不接收或全检单项次缺陷占总比例5%以内接收。 a. IQC应出份检验不合格报告并知会供应商处理。
b. 供应商应及时对不良品进行维修或更换，返回后IQC应再次检验。
4 检测方法：
.环境
a.温度 : 25±5 ℃
b.湿度 : 65 ±10 % RH
c.照明 : (400 to 800 Lux)，LCD显示检验时100-150Lux。
.检测观看距离：检测者应和屏幕保持的距离为30厘米。
.检测角度 ：应在正常的角度进行观测和检测。
5. 定义：
暗点：由于MOS管失效造成一个子像素一直不发光，称为暗点，如右图示,当暗点的面积大于1/2个子像素时，计一个暗点，当暗点的面积小于1/2个子像素时，忽略不计（如下图左）。
亮点：由于MOS管失效造成一个子像素一直发光，称为亮点，如右图所示。当亮点的面积大于1/2个子像素时，计一个亮点（如上图中）。
微亮点：由于液晶屏内侵入杂质微粒，造成像素内部分区域一直发光，称微亮点，如右图，当亮点的面积小于或等于1/2个子像素且可见时，计一个微亮点（如上图右）。 像素点：1个像素点=3 个色点 (1 红 +1绿+1 蓝)，即3个子像素。
Type A Type B 1 像素点 1 像素点= 3色点 1 色点 相邻不良像素点：
. 点性缺陷和线性缺陷
A区和B区: A区是屏的中间和屏的长宽70%的区域，--即左边15%开始，底部和顶部屏边缘距离。
第2页 LCD像素大小对照表:
屏规格 水平像素 纵向像素 比例 分辨像素,mm 率 \" 960 540 16:9 0,11 234 5\" 1280 720 16:9 0,09 294 7\" 1024 600 16:10 0,15 173 7\" 1280 800 16:10 0,12 216 8\" 1024 768 4:3 0,16 160 \" 1024 768 4:3 0,19 132 \" 2048 1536 4:3 0,10 264 \" 1280 800 16:10 0,17 149 \" 1920 1200 16:10 0,11 224 Mura：为对比类型的缺陷，在同一光源且相同底色之画面下，因视觉感受到不同程度之颜色差异称之为Mura。
测试方法：白色图片以及6%灰色图片，距离为35cm进行判定，可见缺陷再用
5%的灰滤镜判定。
彩色线条缺陷: 从整个的垂直/平面线有不同的颜色（如下图左）。 不正常显示:开机在任何画面都能看到（如上图右）。 水纹波:开机彩色画面下用10G的力压画面，出现彩色水纹状。
漏光:在暗室环境下,光线100-150Lux,屏亮度设置为100%,打开图片为6%级灰色图片，全
屏，能看到有光漏出定义为漏光。
顶白：在白色画面下，用3-5N的力压LCD的背部，出现黑点或不均匀的线状纹 缺陷点（亮点和暗点）的判定方法
亮点：首先在100%的黑色背景下测试，如果能看到不良像素点，再将图片改为50%的灰度(黑色背景)画面的状态下观察，在50%的灰度状态也能看到，我们将其不良判定为亮点，如不能看到则判定为OK；
暗点:在50%的灰度(黑色背景)下看如能看到不良点，再改为25%灰度(黑色背景)下观察，如也能看到，判定为暗
点，如在25%的灰度下不能看到判定为OK。 具体的检测方法流程请参照下表： 缺陷代码对照表
代码 名称（单位） 代码 名称（单位） N 数目（个） D 直径(mm) L 长度(mm) H 深度(mm) W 宽度(mm) DS 距离(mm) S 面积（mm2） 6．检验项目及标准 LCD外观类和显示功能类
检测条检验检验件/方类别 项目 法 工具 测试缺陷说明 准 CR MaMi判定标缺陷等级 j n 刮伤：W≤ 接受 ● 刮伤： 缺陷等级 检验项检验方法 目 分区 缺陷说明 判定标准 CR Maj Min D≤，适用于A/B区 接受 ● ≤D≤，DS≥50mm A区 暗点 参考 D＞ N≤1 不接受 ≤D≤，DS≥50mm B区 D＞ N≤2 ● 不接受 A区 亮点或参考 彩点 B区 可视点 不接受 ● ≤D≤，DS≥50mm N≤2 ● D＞ 不接受 点缺陷总数 基于暗点和亮点的点总数（亮点和暗点分别不大于2N/A 个） N≤4 总数 缺陷品占比 ≤3% Ⅱ类标准要求 缺陷等级 检验项检验方法 目 分区 缺陷说明 判定标准 CR Maj Min D≤，适用于A/B区 接受 ● ≤D≤，DS≥50mm A区 暗点 参考 D＞ N≤1 不接受 ≤D≤，DS≥50mm B区 D＞ N≤3 ● 不接受 D≤忽略不计（当亮点的面积大于A区 1/2个子像素时，计一个亮点） 亮点或参考 彩点 B区 D＞ 不接受 ≤D≤，DS≥50mm N≤2 可接受 ● ● 基于暗点点缺陷和亮点的总数 总数 N/A 点总数（亮点和暗点分别不大于2N≤4 个） 缺陷品占比 ≤5% III类标准要求 检验项检验方法 目 分区 缺陷说明 判定标准 缺陷等级 CR Maj Min D≤忽略不计（不允许密集小点），接受 暗点 参考 不分区 适用于A/B区,DS≥30mm ≤D≤，DS≥50mm N≤3 D≤忽略不计（当亮点的面积大于1/2个子像素时，计一个亮点），亮点或参考 彩点 ≤D≤，DS≥50mm N≤4 不分区 DS≥30mm 可接受 ● ● D＞ 不接受 基于暗点点缺陷和亮点的总数 总数 N/A 点总数（亮点和暗点分别不大于2N≤4 个） 缺陷品占比 ≤5% 尺寸&可靠性 缺陷等级 检验类检验项目 别 具 测试工缺陷说明 准 CR Maj n 判定标Mi尺寸 尺寸 卡尺 超出承认书图面规格要求 不接受 ● 老化常温测治具 试 循环播放视频8H，显示出现缺划、不接受 多划、不显示、花屏、线条 ● 高温工作和恒温恒可靠性标准 储存 湿箱 高温50℃，时间4H出现上述不良问不接受 题 ● 低温工作和恒温恒储存 湿箱 低温-20℃，时间4H出现上述不良不接受 问题 ● 排线弯折寿用手 命 来回弯折3次，出现显示不良、FPC不接受 焊接脱落 ● 包装破损，受潮或机械性损伤等 包装与包装 标示 标识与实物不符 目视 包装混有其它规格之产品 不接受 ● ● 不接受 ● 不接受 7.标准使用说明： Ⅰ类标准要求较高，适用于BIMAX，乌克兰客户，具体产品为： 其中BIMAX点缺陷的定义为像素点（即RGB只允许一个颜色界面可视）。 Ⅱ、Ⅲ类标准适用于其他客户及大部分产品。 标准的选用由订单评审时决定。 因篇幅问题不能全部显示，请点此查看更多更全内容