专利名称：存储器测试系统及方法专利类型：发明专利发明人：肖光
申请号：CN202011277551.4申请日：20201116公开号：CN112382335A公开日：20210219
摘要：本发明公开了一种存储器测试系统及方法。所述存储器测试系统包括外部配置接口、外部环境模块和测试环境模块；所述外部配置接口用于输入测试参数；所述外部环境模块用于根据所述测试参数，确定相应的测试流程，在执行所述测试流程时，从预设的功能函数库中调取相应的功能函数，并产生所述功能函数对应的模式程序至所述测试环境模块；所述测试环境模块用于根据所述模式程序，对存储器进行测试。本发明实施例能够提高程序的复用性和可维护性，提高量产测试效率，且降低测试成本。
申请人：武汉新芯集成电路制造有限公司
地址：430205 湖北省武汉市东湖开发区高新四路18号
国籍：CN
代理机构：深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人：张晓薇
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