(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 111366887 A(43)申请公布日 2020.07.03
(21)申请号 202010345855.3(22)申请日 2020.04.27
(71)申请人 广东电网有限责任公司电力调度控
制中心
地址 510600 广东省广州市越秀区梅花路
75号(72)发明人 刘玮 屠卿瑞 吴梓亮 焦邵麟
王增超 张智锐 (74)专利代理机构 北京集佳知识产权代理有限
公司 11227
代理人 沈闯(51)Int.Cl.
G01R 35/02(2006.01)G01R 35/00(2006.01)
权利要求书3页 说明书9页 附图3页
(54)发明名称
一种互感器暂态采样精度校验方法、装置、终端及介质(57)摘要
本申请公开了一种互感器暂态采样精度校验方法、装置、终端及介质，本申请基于作为基准数据的第一故障录波数据和作为待校验数据的第二故障录波数据，通过将第一故障录波数据和第二故障录波数据中处于故障暂态下的采样点数据进行差值计算，并通过对差值进行傅里叶变换，获得差值有效值，再以差值有效值与预置的误差阈值的比较结果作为待校验互感器的精度校验结果，解决了现有的互感器也存在暂态过程中的采样准确度不稳定而导致的现有的互感器精度校验误差大的技术问题。CN 111366887 ACN 111366887 A
权 利 要 求 书
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1.一种互感器暂态采样精度校验方法，其特征在于，包括：获取第一故障录波数据和第二故障录波数据，其中，所述第一故障录波数据为基准互感器基于故障事件生成的故障录波数据，所述第二故障录波数据为待校验互感器基于所述故障事件生成的故障录波数据；
基于所述第一故障录波数据的故障时间节点，确定所述第一故障录波数据和第二故障录波数据的采样区间，通过对所述采样区间内的录波数据进行采样，分别得到第一采样信号和第二采样信号；
根据各个第一信号采样点和各个第二信号采样点的电压幅值差值，对所述第一采样信号和所述第二采样信号进行信号对齐，并提取暂态区间内第一采样信号点和第二采样信号点，其中，所述第一信号采样点为所述第一采样信号中的采样点，所述第二信号采样点为所述第二采样信号中的采样点；
逐一计算各个采样点组合的差值，并对所述差值进行傅里叶变换，得到所述目标采样点组合的差值有效值，其中，所述采样点组合为所述第一采样点与所述第二采样点的组合，所述第一采样点具体为所述第一信号采样点中的采样点，所述第二采样点具体为所述第二信号采样点中与所述第一采样点对齐的采样点；
将所述差值有效值与预置的误差阈值进行比较，获得所述待校验互感器的精度校验结果。
2.根据权利要求1所述的一种互感器暂态采样精度校验方法，其特征在于，所述根据各个第一采样点和各个第二采样点的电压幅值差值，对所述第一采样信号和所述第二采样信号进行信号对齐具体包括：
根据各个第一采样点和各个第二采样点的电压幅值差值，分别计算各个所述第一采样点与所述第二采样点的电压幅值方差，并确定最小电压幅值方差对应的第一基准采样点和第二基准采样点；
以所述第一基准采样点和所述第二基准采样点为基准对所述第一采样信号和所述第二采样信号进行信号对齐。
3.根据权利要求1所述的一种互感器暂态采样精度校验方法，其特征在于，得到第一采样信号和第二采样信号之后还包括：
获取所述第一采样信号和所述第二采样信号的采样率参数，若所述第一采样信号的采样率参数大于所述第二采样信号的采样率参数，则根据所述第二采样信号的采样率参数对所述第二采样信号进行插值。
4.根据权利要求1所述的一种互感器暂态采样精度校验方法，其特征在于，所述基于所述第一故障录波数据的故障时间节点，确定所述第一故障录波数据和第二故障录波数据的采样区间具体包括：
根据所述第一故障录波数据，确定故障时间节点；以所述故障时间节点为基准，根据预置的时间跨度阈值，确定第一时间节点和第二时间节点，其中所述第一时间节点小于所述第二时间节点，且所述第一时间节点与所述故障时间节点的差值、所述第二时间节点与所述故障时间节点的差值均等于所述时间跨度阈值；
以所述第一时间节点和所述第二时间节点为采样区间的上下限，确定所述第一故障录
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权 利 要 求 书
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波数据和第二故障录波数据的采样区间。
5.根据权利要求4所述的一种互感器暂态采样精度校验方法，其特征在于，还包括：当所述第二故障录波数据为多个时，提取所述第一故障录波数据的第一暂态突变相别参数和第一稳态幅值参数，以及各个所述第二故障录波数据的第二暂态突变相别参数和第二稳态幅值参数；
将所述第一暂态突变相别参数和各个第二暂态突变相别参数进行比较，以及将所述第一稳态幅值参数与各个所述第二稳态幅值参数进行比较，确定与所述第一故障录波数据的暂态突变相别参数相同且稳态幅值参数误差最小的第二故障录波数据。
6.根据权利要求1所述的一种互感器暂态采样精度校验方法，其特征在于，所述提取暂态区间内第一采样信号点和第二采样信号点之后还包括：
比较所述第一采样信号和所述第二采样信号的暂态区间长度，以最小暂态区间长度为基准，调整所述第一采样信号和所述第二采样信号的暂态区间长度。
7.根据权利要求1所述的一种互感器暂态采样精度校验方法，其特征在于，所述将所述差值有效值与预置的误差阈值进行比较，获得所述待校验互感器的精度校验结果具体包括：
将所述差值有效值与预置的误差阈值进行比较，当所述差值有效值大于所述误差阈值的数据量超过了预置比例时，则输出校验失败结果。
8.一种互感器暂态采样精度校验装置，其特征在于，包括：录波数据获取单元，用于获取第一故障录波数据和第二故障录波数据，其中，所述第一故障录波数据为基准互感器基于故障事件生成的故障录波数据，所述第二故障录波数据为待校验互感器基于所述故障事件生成的故障录波数据；
数据采样单元，用于基于所述第一故障录波数据的故障时间节点，确定所述第一故障录波数据和第二故障录波数据的采样区间，通过对所述采样区间内的录波数据进行采样，分别得到第一采样信号和第二采样信号；
暂态区间采样点提取单元，用于根据各个第一信号采样点和各个第二信号采样点的电压幅值差值，对所述第一采样信号和所述第二采样信号进行信号对齐，并提取暂态区间内第一采样信号点和第二采样信号点，其中，所述第一信号采样点为所述第一采样信号中的采样点，所述第二信号采样点为所述第二采样信号中的采样点；
差值有效值计算单元，用于逐一计算各个采样点组合的差值，并对所述差值进行傅里叶变换，得到所述采样点组合的差值有效值，其中，所述采样点组合为所述第一采样点与所述第二采样点的组合，所述第一采样点具体为所述第一信号采样点中的采样点，所述第二采样点具体为所述第二信号采样点中与所述第一采样点对齐的采样点；
误差比较单元，用于将所述差值有效值与预置的误差阈值进行比较，获得所述待校验互感器的精度校验结果。
9.一种终端，其特征在于，包括：存储器和处理器；
所述存储器用于存储与权利要求1至7任意一项所述互感器暂态采样精度校验方法相对应的程序代码；
所述处理器用于执行所述程序代码。10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中保存有与权利要求1至7任意一项所述
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互感器暂态采样精度校验方法相对应的程序代码。
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一种互感器暂态采样精度校验方法、装置、终端及介质
技术领域
[0001]本申请涉及数据处理领域，尤其涉及一种互感器暂态采样精度校验方法、装置、终端及介质。
背景技术
[0002]近年来，随着电力系统智能化技术的成熟，继电保护装置和故障录波器等带有故障录波功能的设备已在电力系统中得到广泛应用。在电力系统中，互感器作为故障录波设备中不可缺少的测量单元，占有及其重要的地位，互感器在不同的测量范围内误差不同，直接影响着继电保护装置和故障录波器的采集精度。随着智能电网的不断发展，系统规模越来越大,电压等级越来越高,结构愈加复杂,特别是在发生故障时受多种因素影响的暂态过程，十分复杂，对互感器的采样精度的影响最为严重。[0003]目前，故障录波设备的采集单元均采用的是电磁式互感器，其通过一、二次侧线圈及铁芯间的磁耦合,将一次大电流按变比变换成二次小电流，现有的校验方式是基于采样得到的数值进行比对校验，但是现有的互感器也存在暂态过程中的采样准确度不稳定的问题，进而导致了现有的互感器精度校验误差大的技术问题。发明内容
[0004]本申请提供了一种互感器暂态采样精度校验方法、装置、终端及介质，用于解决现有的互感器精度校验误差大的技术问题。[0005]有鉴于此，本申请第一方面提供了一种互感器暂态采样精度校验方法，包括：[0006]获取第一故障录波数据和第二故障录波数据，其中，所述第一故障录波数据为基准互感器基于故障事件生成的故障录波数据，所述第二故障录波数据为待校验互感器基于所述故障事件生成的故障录波数据；
[0007]基于所述第一故障录波数据的故障时间节点，确定所述第一故障录波数据和第二故障录波数据的采样区间，通过对所述采样区间内的录波数据进行采样，分别得到第一采样信号和第二采样信号；
[0008]根据各个第一信号采样点和各个第二信号采样点的电压幅值差值，对所述第一采样信号和所述第二采样信号进行信号对齐，并提取暂态区间内第一采样信号点和第二采样信号点，其中，所述第一信号采样点为所述第一采样信号中的采样点，所述第二信号采样点为所述第二采样信号中的采样点；
[0009]逐一计算各个采样点组合的差值，并对所述差值进行傅里叶变换，得到所述采样点组合的差值有效值，其中，所述采样点组合为所述第一采样点与所述第二采样点的组合，所述第一采样点具体为所述第一信号采样点中的采样点，所述第二采样点具体为所述第二信号采样点中与所述第一采样点对齐的采样点；
[0010]将所述差值有效值与预置的误差阈值进行比较，获得所述待校验互感器的精度校验结果。
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可选地，所述根据各个第一采样点和各个第二采样点的电压幅值差值，对所述第
一采样信号和所述第二采样信号进行信号对齐具体包括：
[0012]根据各个第一采样点和各个第二采样点的电压幅值差值，分别计算各个所述第一采样点与所述第二采样点的电压幅值方差，并确定最小电压幅值方差对应的第一基准采样点和第二基准采样点；
[0013]以所述第一基准采样点和所述第二基准采样点为基准对所述第一采样信号和所述第二采样信号进行信号对齐。[0014]可选地，得到第一采样信号和第二采样信号之后还包括：[0015]获取所述第一采样信号和所述第二采样信号的采样率参数，若所述第一采样信号的采样率参数大于所述第二采样信号的采样率参数，则根据所述第二采样信号的采样率参数对所述第二采样信号进行插值。[0016]可选地，所述基于所述第一故障录波数据的故障时间节点，确定所述第一故障录波数据和第二故障录波数据的采样区间具体包括：[0017]根据所述第一故障录波数据，确定故障时间节点；[0018]以所述故障时间节点为基准，根据预置的时间跨度阈值，确定第一时间节点和第二时间节点，其中所述第一时间节点小于所述第二时间节点，且所述第一时间节点与所述故障时间节点的差值、所述第二时间节点与所述故障时间节点的差值均等于所述时间跨度阈值；
[0019]以所述第一时间节点和所述第二时间节点为采样区间的上下限，确定所述第一故障录波数据和第二故障录波数据的采样区间。[0020]可选地，还包括：
[0021]当所述第二故障录波数据为多个时，提取所述第一故障录波数据的第一暂态突变相别参数和第一稳态幅值参数，以及各个所述第二故障录波数据的第二暂态突变相别参数和第二稳态幅值参数；
[0022]将所述第一暂态突变相别参数和各个第二暂态突变相别参数进行比较，以及将所述第一稳态幅值参数与各个所述第二稳态幅值参数进行比较，确定与所述第一故障录波数据的暂态突变相别参数相同且稳态幅值参数误差最小的第二故障录波数据。[0023]可选地，所述提取暂态区间内第一采样信号点和第二采样信号点之后还包括：[0024]比较所述第一采样信号和所述第二采样信号的暂态区间长度，以最小暂态区间长度为基准，调整所述第一采样信号和所述第二采样信号的暂态区间长度。[0025]可选地，所述将所述差值有效值与预置的误差阈值进行比较，获得所述待校验互感器的精度校验结果具体包括：
[0026]将所述差值有效值与预置的误差阈值进行比较，当所述差值有效值大于所述误差阈值的数据量超过了预置比例时，则输出校验失败结果。
[0027]本申请第二方面提供了一种互感器暂态采样精度校验装置，包括：[0028]录波数据获取单元，用于获取第一故障录波数据和第二故障录波数据，其中，所述第一故障录波数据为基准互感器基于故障事件生成的故障录波数据，所述第二故障录波数据为待校验互感器基于所述故障事件生成的故障录波数据；[0029]数据采样单元，用于基于所述第一故障录波数据的故障时间节点，确定所述第一
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故障录波数据和第二故障录波数据的采样区间，通过对所述采样区间内的录波数据进行采样，分别得到第一采样信号和第二采样信号；[0030]暂态区间采样点提取单元，用于根据各个第一信号采样点和各个第二信号采样点的电压幅值差值，对所述第一采样信号和所述第二采样信号进行信号对齐，并提取暂态区间内第一采样信号点和第二采样信号点，其中，所述第一信号采样点为所述第一采样信号中的采样点，所述第二信号采样点为所述第二采样信号中的采样点；[0031]差值有效值计算单元，用于逐一计算各个采样点组合的差值，并对所述差值进行傅里叶变换，得到所述采样点组合的差值有效值，其中，所述采样点组合为所述第一采样点与所述第二采样点的组合，所述第一采样点具体为所述第一信号采样点中的采样点，所述第二采样点具体为所述第二信号采样点中与所述第一采样点对齐的采样点；[0032]误差比较单元，用于将所述差值有效值与预置的误差阈值进行比较，获得所述待校验互感器的精度校验结果。
[0033]本申请第三方面提供了一种终端，包括：存储器和处理器；
[0034]所述存储器用于存储与本申请第一方面所述互感器暂态采样精度校验方法相对应的程序代码；
[0035]所述处理器用于执行所述程序代码。[0036]本申请第四方面提供了一种存储介质，所述存储介质中保存有与本申请第一方面所述互感器暂态采样精度校验方法相对应的程序代码。[0037]从以上技术方案可以看出，本申请实施例具有以下优点：[0038]本申请提供了一种互感器暂态采样精度校验方法，包括：获取第一故障录波数据和第二故障录波数据，其中，所述第一故障录波数据为基准互感器基于故障事件生成的故障录波数据，所述第二故障录波数据为待校验互感器基于所述故障事件生成的故障录波数据；基于所述第一故障录波数据的故障时间节点，确定所述第一故障录波数据和第二故障录波数据的采样区间，通过对所述采样区间内的录波数据进行采样，分别得到第一采样信号和第二采样信号；根据各个第一信号采样点和各个第二信号采样点的电压幅值差值，对所述第一采样信号和所述第二采样信号进行信号对齐，并提取暂态区间内第一采样信号点和第二采样信号点，其中，所述第一信号采样点为所述第一采样信号中的采样点，所述第二信号采样点为所述第二采样信号中的采样点；逐一计算各个采样点组合的差值，并对所述差值进行傅里叶变换，得到所述采样点组合的差值有效值，其中，所述采样点组合为所述第一采样点与所述第二采样点的组合，所述第一采样点具体为所述第一信号采样点中的采样点，所述第二采样点具体为所述第二信号采样点中与所述第一采样点对齐的采样点；将所述差值有效值与预置的误差阈值进行比较，获得所述待校验互感器的精度校验结果。
[0039]本申请基于作为基准数据的第一故障录波数据和作为待校验数据的第二故障录波数据，通过将第一故障录波数据和第二故障录波数据中处于故障暂态下的采样点数据进行差值计算，并通过对差值进行傅里叶变换，获得差值有效值，再以差值有效值与预置的误差阈值的比较结果作为待校验互感器的精度校验结果，解决了现有的互感器也存在暂态过程中的采样准确度不稳定而导致的现有的互感器精度校验误差大的技术问题。
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附图说明
[0040]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0041]图1为本申请提供的一种互感器暂态采样精度校验方法的第一个实施例的流程示意图；
[0042]图2为本申请提供的一种互感器暂态采样精度校验方法的第二个实施例的流程示意图；
[0043]图3为本申请提供的一种互感器暂态采样精度校验装置的第一个实施例的结构示意图。
具体实施方式[0044]目前，故障录波设备的采集单元均采用的是电磁式互感器，其通过一、二次侧线圈及铁芯间的磁耦合，将一次大电流按变比变换成二次小电流，但是现有的互感器也存在暂态过程中的采样准确度不稳定的问题，若按照现有的校验方式，基于实际的采样得到的数值与基准值进行比对校验的话，当采样值偏大容易引发误动，采样值偏小则无法发现互感器存在的隐患，进而导致了现有的互感器精度校验误差大的技术问题。[0045]本申请实施例提供了一种互感器暂态采样精度校验方法、装置、终端及介质，用于解决现有的互感器精度校验误差大的技术问题。[0046]为使得本申请的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而非全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。
[0047]请参阅图1，本申请第一个实施例提供了一种互感器暂态采样精度校验方法，包括：
[0048]步骤101、获取第一故障录波数据和第二故障录波数据。[0049]其中，第一故障录波数据为基准互感器基于故障事件生成的故障录波数据，第二故障录波数据为待校验互感器基于故障事件生成的故障录波数据。[0050]步骤102、基于第一故障录波数据的故障时间节点，确定第一故障录波数据和第二故障录波数据的采样区间，通过对采样区间内的录波数据进行采样，分别得到第一采样信号和第二采样信号。[0051]步骤103、根据各个第一信号采样点和各个第二信号采样点的电压幅值差值，对第一采样信号和第二采样信号进行信号对齐，并提取暂态区间内第一采样信号点和第二采样信号点。
[0052]其中，第一信号采样点为第一采样信号中的采样点，第二信号采样点为第二采样信号中的采样点。
[0053]需要说明的是，基于从第一故障录波数据和第二故障录波数据，提取的第一采样
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信号和第二采样信号，根据两个采样信号中的采样点的幅值比较，对两个同源的采样信号进行信号对齐，以便进行后续的信号处理。[0054]步骤104、逐一计算各个采样点组合的差值，并对差值进行傅里叶变换，得到采样点组合的差值有效值。[0055]其中，采样点组合为第一采样点与第二采样点的组合，第一采样点具体为第一信号采样点中的采样点，第二采样点具体为第二信号采样点中与第一采样点对齐的采样点。[0056]需要说明的是，基于对齐后的第一采样信号和第二采样信号，可以将各个对齐后的第一采样点和第二采样点分别分成若干组采样点组合，然后依次计算各个采样点组合的差值，在对差值进行傅里叶变换，得到该采样点组合的差值有效值。[0057]步骤105、将差值有效值与预置的误差阈值进行比较，获得待校验互感器的精度校验结果。
[0058]本申请实施例基于作为基准数据的第一故障录波数据和作为待校验数据的第二故障录波数据，通过将第一故障录波数据和第二故障录波数据中处于故障暂态下的采样点数据进行差值计算，并通过对差值进行傅里叶变换，获得差值有效值，再以差值有效值与预置的误差阈值的比较结果作为待校验互感器的精度校验结果，解决了现有的互感器也存在暂态过程中的采样准确度不稳定而导致的现有的互感器精度校验误差大的技术问题。[0059]以上为本申请提供的一种互感器暂态采样精度校验方法的第一个实施例的详细说明，下面为本申请提供的一种互感器暂态采样精度校验方法的第二个实施例的详细说明。
[0060]请参阅图2，在上述第一个实施例的基础上，本申请第二个实施例提供的一种互感器暂态采样精度校验方法包括：[0061]步骤201、获取第一故障录波数据和第二故障录波数据。[0062]其中，第一故障录波数据为基准互感器基于故障事件生成的故障录波数据，第二故障录波数据为待校验互感器基于故障事件生成的故障录波数据。[0063]步骤202、当第二故障录波数据为多个时，提取第一故障录波数据的第一暂态突变相别参数和第一稳态幅值参数，以及各个第二故障录波数据的第二暂态突变相别参数和第二稳态幅值参数；[0064]步骤203、将第一暂态突变相别参数和各个第二暂态突变相别参数进行比较，以及将第一稳态幅值参数与各个第二稳态幅值参数进行比较，确定与第一故障录波数据的暂态突变相别参数相同且稳态幅值参数误差最小的第二故障录波数据。[0065]需要说明的是，本实施例的步骤202和步骤203属于可选步骤，由于现有的启动录波算法种类繁多，有些启动录波算法可以基于多个录波通道以同一个故障事件生产多个录波文件，而当第二故障录波数据为多个时，解析故障录波器的录波文件，读取对应通道的二次值，查找的通道是否有突变，其突变判断依据为：
[0066]||A(t+2*N)-A(t-N)|-|A(t+N)-A(t)||≥Kf*In(1)[0067]其中，A(t)为通道的瞬时采样值，N为每周波的采样点数，Kf为突变系数，一般取0.25，In为该通道的额定值。为保证在系统振荡过程中能准确的获取暂态突变，采用通道有效值的越限辅助判据，其通道越限动作判据为：[0068]ΔIφ＞1.25ΔIT+ΔIset(φ＝A,B,C)(2)
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式中：ΔIφ为通道的有效值，ΔIT浮动门槛，一般为负荷电流或电压，默认取该通
道下的第一个周波的有效值，ΔIset为通道越限起动定值，一般为0.2In，当任一通道突变量满足起动门槛，则该通道满足突变条件，并记下突变值和突变前一周期的稳态值。[0070]依次对继电保护装置的录波文件进行突变分析，判断依据见公式(1)和(2)，统计每个录波文件的通道的突变量以及相别，当满足突变量的相别一致，稳态值的误差在5％以内，则录波文件匹配成功，进入下一步骤，否则继续查找，依次循环。[0071]步骤204、根据第一故障录波数据，确定故障时间节点；[0072]步骤205、以故障时间节点为基准，根据预置的时间跨度阈值，确定第一时间节点和第二时间节点，其中第一时间节点小于第二时间节点，且第一时间节点与故障时间节点的差值、第二时间节点与故障时间节点的差值均等于时间跨度阈值。[0073]步骤206、以第一时间节点和第二时间节点为采样区间的上下限，确定第一故障录波数据和第二故障录波数据的采样区间。通过对采样区间内的录波数据进行采样，分别得到第一采样信号和第二采样信号。[0074]需要说明的是，以第一故障录波数据为例，首先获取本次故障录波数据中故障发生的时间节点，记为t，获取本时刻前T1(T1＝t-Δt)和本时刻后T2(T2＝t+Δt)的时间范围内的录波文件，即以[T1，T2]间的第一故障录波数据为第一采样信号，其中，Δt为固定时间范围，一般优选取5s。[0075]步骤207、获取第一采样信号和第二采样信号的采样率参数，若第一采样信号的采样率参数大于第二采样信号的采样率参数，则根据第二采样信号的采样率参数对第二采样信号进行插值。
[0076]需要说明的是，当基准互感器和待校验互感器的采样精度规格不一致时，会出现数据不一致的状况，一般情况下基准互感器的精度一般较高，此时，可以通过对精度较低的第二采样信号进行插值处理。[0077]步骤208、根据各个第一采样点和各个第二采样点的电压幅值差值，分别计算各个第一采样点与第二采样点的电压幅值方差，并确定最小电压幅值方差对应的第一基准采样点和第二基准采样点。
[0078]将所取区间的值计算差值：[0079]θ[i]＝P[i]-Q[i] (3)[0080]式中：θ[i]为本区间第一采样点P[i]和第二采样点Q[i]的差值，并对θ计算标准差，记为f(θ)。
[0081]步骤209、以第一基准采样点和第二基准采样点为基准对第一采样信号和第二采样信号进行信号对齐。[0082]其中，第一信号采样点为第一采样信号中的采样点，第二信号采样点为第二采样信号中的采样点。
[0083]需要说明的是，由于故障前，同电压等级的电压值均应该是相同的，因此可认为标准差最小的数据，其波形的相似性应是最接近的，故取方差最小的点，即为两个录波文件精确对齐点，对两个同源的采样信号进行信号对齐，并以此点为基准提取暂态数据段，以便进行后续的信号处理。[0084]步骤210、比较第一采样信号和第二采样信号的暂态区间长度，以最小暂态区间长
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度为基准，调整第一采样信号和第二采样信号的暂态区间长度。[0085]暂态数据窗的长度归一化处理，为避免暂态数据长度不一致，导致的对比过程中出现错误问题，首先对暂态数据窗的长度进行统一化，依据上述进行统一后的录波数据，获取各暂态的持续时间，分别记为t_A,t_B,则统一后的时间为t，且满足下述公式(4)。
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步骤211、逐一计算各个采样点组合的差值，并对差值进行傅里叶变换，得到采样点组合的差值有效值。[0088]其中，采样点组合为第一采样点与第二采样点的组合，第一采样点具体为第一信号采样点中的采样点，第二采样点具体为第二信号采样点中与第一采样点对齐的采样点。[0089]需要说明的是，基于对齐后的第一采样信号和第二采样信号，可以将各个对齐后的第一采样点和第二采样点分别分成若干组采样点组合，然后依次计算各个采样点组合的差值，记为D(i),，在对差值进行傅里叶变换，得到该采样点组合的差值有效值F(i)。[0090]步骤212、将差值有效值与预置的误差阈值进行比较，当差值有效值大于误差阈值的数据量超过了预置比例时，则输出校验失败结果。[0091]将计算后的差值有效值组合，取F(i)<δmax(δmax为误差最大值)的t的范围，当采样值超过该范围时，将表示暂态数据的采样误差将偏大，并进行数据预警。
[0092]以上为本申请提供的一种互感器暂态采样精度校验方法的第二个实施例的详细说明，下面为本申请提供的一种互感器暂态采样精度校验装置的第一个实施例的详细说明。
[0093]请参阅图3，本申请第三个实施例提供了一种互感器暂态采样精度校验装置，包括：
[0094]录波数据获取单元301，用于获取第一故障录波数据和第二故障录波数据，其中，第一故障录波数据为基准互感器基于故障事件生成的故障录波数据，第二故障录波数据为待校验互感器基于故障事件生成的故障录波数据；[0095]数据采样单元302，用于基于第一故障录波数据的故障时间节点，确定第一故障录波数据和第二故障录波数据的采样区间，通过对采样区间内的录波数据进行采样，分别得到第一采样信号和第二采样信号；
[0096]暂态区间采样点提取单元303，用于根据各个第一信号采样点和各个第二信号采样点的电压幅值差值，对第一采样信号和第二采样信号进行信号对齐，并提取暂态区间内第一采样信号点和第二采样信号点，其中，第一信号采样点为第一采样信号中的采样点，第二信号采样点为第二采样信号中的采样点；[0097]差值有效值计算单元304，用于逐一计算各个采样点组合的差值，并对差值进行傅里叶变换，得到采样点组合的差值有效值，其中，采样点组合为第一采样点与第二采样点的组合，第一采样点具体为第一信号采样点中的采样点，第二采样点具体为第二信号采样点中与第一采样点对齐的采样点；[0098]误差比较单元305，用于将差值有效值与预置的误差阈值进行比较，获得待校验互感器的精度校验结果。
[0099]以上为本申请提供的一种互感器暂态采样精度校验装置的第一个实施例的详细
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说明，下面为本申请提供的一种终端和存储介质的详细说明。[0100]本申请第四个实施例提供了一种终端，包括：存储器和处理器；
[0101]存储器用于存储与本申请第一方面互感器暂态采样精度校验方法相对应的程序代码；
[0102]处理器用于执行程序代码。
[0103]本申请第五个实施例提供了一种存储介质，存储介质中保存有与本申请第一方面互感器暂态采样精度校验方法相对应的程序代码。[0104]所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统，装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。[0105]在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统，装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。[0106]本申请的说明书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例例如能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0107]所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。[0108]另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
[0109]所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
[0110]以上所述，以上实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前
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述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围。
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图2
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图3
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